COWWS系列 DSP集成电路高(低)温老化测试系统

符合标准:     
    GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB597(等同MIL-M-38510)。

适用范围:     
    适应于对DSP、FPGA、CPLD等各类超大规模集成电路进行高(低)温动态老化和测试。
技术指标:

型号COWWS-31000COWWS-32000ELEA-DSP
系统分区12区(标准)36区(标准)12区(标准)
试验容量最大12X8工位最大36X8工位最大12X8工位
试验温度-50℃~+150℃最高150℃最高150℃
测试范围功能测试覆盖:1、指令集;2、PLL:功能覆盖;3、DMA:程序覆盖;4、JTAG:功能覆盖;5、BOOT:功能覆盖;6、中断:程序覆盖;7、IDCODE:功能覆盖;8、输出引脚;9、输出引脚:包括片内翻转和片外翻转率。
数字信号每路独立的高速数字信号发生驱动单元,最高频率可达10MHz;驱动能力:30mA;
各通道可独立定义为输入输出属性;信号上升、下降沿时间小于25ns;
可产生两路用户自定义的重置信号,复位的宽度为1us-600us,高电平或低电平有效;
模拟信号单路正弦波信号发生及驱动电路,频率100Hz ~100kHZ,,最大驱动电流:0.5A;
幅度Vpp:5V;直流偏移量:0~1/2Vpp;
通讯方式TCP/IP协议
软件功能系统具有完备的自检功能,可以对每路数字信号、试验电源、模拟信号进行自动检测,定时记录,形成报表以备查询。
试验全过程中对试验箱温度、二级电源的输出电压进行在线实时检测,具有过压、欠压、过流、过热保护和在线诊断功能,并能描绘相应的电压-时间、温度时间曲线。试验结束自动形成试验报告,试验数据以EXCEL标准表格形式和参数对应时间的曲线描绘形式,适用于试验数据的分析。
二级电源每区提供两路二级电源:
VCC1(IO电压):0.8V~3.0V/40A,纹波(RMS)≤10MV;负载变化率≤10MV;
VCC2(核电压):3.0V~5.5V/8A,纹波(RMS)≤10MV;负载变化率≤10MV;
试验状态检测每区12组DUT测试单元模块(48个I/O状态监测);
每区8个输出信号频率及正负脉宽监测;
二级电源电压监测;试验箱温度实时检测、记录;
供电要求380V ,50Hz,三相;
整机功率:10kW以下 

 


COWWS5 系列混合集成电路高(低)温动态老化系统

上一个:

下一个:

COWWS2系列 存储器高(低)温老化测试系统
  • 1
  • 2
本网站由阿里云提供云计算及安全服务