COWWS1系列 集成电路高(低)温动态老化系统

符合标准:
    GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB597(等同MIL-M-38510)。
适用范围:
   适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微电子电路进行高低温动态老化试验。

性能指标: 

型号COWWS-11000COWWS-12000ELEA-V
系统分区 16区(标准)48区(标准)16区(标准)
试验容量 16*161(以DIP14计)48*161(以DIP14计)16*161(以DIP14计)
试验温度 -50℃~+150℃最高150℃最高150℃
数字信号路数每区64路
数字信号每路信号可独立编辑,具有数据、地址、控制、三态特性;
信号最高频率:1MHz;;最小编程分辨率50ns,最小编程步长50ns;编程深度256K;
信号幅度控制范围:2.0V~18.0V;最大寻址深度64G;
模拟信号四路多种类模拟信号发生单元及驱动电路,时序可程控设定;最大驱动电流:1A;
频率(1Hz-32K),最高频率可达1MHZ(可选);信号幅度Vpp20V;直流偏移量:0~1/2Vpp
试验状态监测64路信号示波监测接口;
宽范围数字、模拟型号频率自动测试、记录;二级电源电压监测;
二级电源电流、信号峰值监测(可选)
通讯速率500K
老化电源 

配置10台25V/40A电源;

配置24台25V/40A电源;

配置10台25V/40A电源;

二级电源

 
可程控VCC,VMUXVEE;输出能力:2V~18V/10A;
具备灌电流能力;
供电要求 输入AC380V ,50Hz,三相;
整机功率:15kW以下
输入AC380V ,50Hz,三相;
整机功率:15kW以下
输入AC380V ,50Hz,三相;
整机功率:10kW以


COWWS2系列 存储器高(低)温老化测试系统

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