COWWS5 系列混合集成电路高(低)温动态老化系统

符合标准:   
    GJB548(等同MIL-STD-883)、 GJB597(等同MIL-M-38510)

适用范围:  
    适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路等进行高低温动态老化试验。

技术指标:

型号COWWS-51000COWWS-52000ELEA-HIC
系统分区16区32区16区
试验容量16*6032*6016*60
试验温度-50℃~+150℃最高150℃最高150℃
数字信号路数  每板8路
数字信号每路信号可独立编辑,具有数据、地址、控制、三态特性;信号最高频率:1MHz;
最小编程分辨率100ns,最小编程步长100ns;编程深度256K;信号幅度:2.0V~12.0V
模拟信号两路多种类模拟信号发生电路,最高频率32KHZ;最大驱动电流:1A;信号幅度VPP:30V;两路正弦波信号发生电路,最高频率1MHZ;最大驱动电流:0.2A;信号幅度VPP:20V;
试验状态监测96路信号示波监测接口;宽范围数字、模拟型号频率/峰值自动测试、记录;
二级电源电压监测;
老化电源标准配置16台40V/25A电源
二级电源组正电源:VCC1、VCC2(+2V~+36V);最大电流10A;
组负电源:VEE1、VEE2(-2V~-36V);最大电流10A;
具有过流、过压、短路及过热保护功能
供电要求380V ,50Hz;
整机功率:15kW以下
380V ,50Hz;
整机功率:15kW以下
380V ,50Hz;
整机功率:15kW以下


COWWS6 系列电路板组件高低温老化测试系统

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COWWS系列 DSP集成电路高(低)温老化测试系统
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