DEVR-H3 高温高湿反偏老化系统

符合标准:

    JEDEC、AEC等标准。

适用范围:

    适用于对各种半导体器件进行高温高湿反偏试验(H3TRB)。
技术指标:
型 号DEVR-H3系统分区16区试验容量1280位试验条件85%RH,85℃(典型)老化电源配置标准配置4台,可配置2~8路;(100V/12A,60V/20,40V/30A等规格可选)老化方式高温高湿条件下的反偏试验;每区配置一块电阻板,每个工位对应一只保护电阻(根据不同器件的漏电流值,可方便更换);试验状态监测每区提供80个测试接口,通过外外接测试仪器检测各器件的漏电流;电源切换装置标准配置8组老化板通道,可切换到任意一台老化电源;老化电源定时装置每台电源配置一套定时装置,用于对应老化板通道的各种状态控制(开始/结束);供电要求输入380V 50HZ,三相;最大功率:10kw



DEVR-V 高温反偏老化系统

上一个:

下一个:

DZ-350大功率 微波晶体管老化系统
  • 1
本网站由阿里云提供云计算及安全服务