DEVR-V 高温反偏老化系统

符合标准:
     GJB128(等同MIL-STD-750);

适用范围:
     用于二极管、三极管、场效应管、MOS管和可控硅等器件进行高温反偏(HTRB、HTIR)试验。


技术性能:

型  号DEVR-V
系统分区16区
试验容量80×16
试验温度最高150℃
老化电源100V、300V、600V、1200V、1500V、2000V等规格任选;
可配置2~8路,标准配置4路
切换装置各区均可切换到任何一台老化电源进行试验

电流检测

范围1.0μA~50.0mA
误差±1.0%RD±2LSB
分辨率 0.1μA
电压检测范围0~2000.0V
误差±1%RD±1.0V
分辨率 0.1V(检测电压≤1000V);1V(检测电压≥1000V)
工作特性老化试验前和老化结束后可进行PN结正向电压检测,对失效器件进行判断;设备内部提供电源转换接口,通过插拔转换的方式实现任何一台电源均可以为16个区提供试验电压。
电源要求AC220V,50Hz;
整机功率:4kW以下
重   量  约400kg
外形尺寸
(宽×高×深)
1313mm×1950mm×1350mm


DEVC-V 4500电容器高温老化系统

上一个:

下一个:

DEVR-H3 高温高湿反偏老化系统
  • 1
本网站由阿里云提供云计算及安全服务