ELEC-V系列 多功能综合老化系统

符合标准:
   GJB128(等同MIL-STD-750)

适用元器件:
    适用于各种封装中小功率二极管、三极管、MOS管、稳压管、可控硅、集成稳压器、电阻器、光电耦合器等。

适用试验:
    各种半导体器件(包括高频小功率器件等)的稳态寿命、筛选试验和间歇寿命试验 。
技术指标:

型号ELEC-VELEC-V01
系统分区16区(标准)16区(标准)
试验容量2048工位(标准)2048工位(标准)
试验温度常温最高150℃
老化电源分区标准四套(可扩展至八套);
VB电源(0~25V/40A);
VC电源(0~60V/20A)
老化温区8个独立程控调速风道提供8个独立温区统一温区
恒流源每板8路,2A恒源流(可并联使用,最大到16A),控制精度0.5%
控制方式采用工控机进行控制,配置大屏幕液晶屏;
老化方式每个电源区可独立选择稳态或间歇试验;
老化时间设置范围;10000小时内可设定;
间歇通断时间范围1秒-3000秒;
稳态试验;老化时间设置范围;10000小时内可设定;
 
电压、电流检测误差±2%±2LSB±2%±2LSB
电源要求输入AC 220V,50HZ;整机功率:5KW以下输入AC 220V,50HZ;整机功率:7KW以下


ELET-V集成稳压器 高温老化系统

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ELEC-D整流 二极管恒流老化系统
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