ELED-S 传感器组件 低温老化测试系统

符合标准:
      GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB128(等同MIL-STD-750)。

适用范围:
      适用于对各种传感器/传感器组件进行高低温循环老化测试,实时监测传感器在不同温度条件下的输出电压变化情况。
技术指标:
 

型号ELED-S
系统分区8区
试验容量每区32个传感器组件,共256位;
试验温度-50℃~100℃,温度循环模式
试验控制方式采用流程式控制软件,对应不同试验温度应用不同判据执行不同控制;
实时监测不同温度条件下传感器输出电压变化;
所有循环相同步次数据对比;
通讯方式TCP/IP协议
二级电源每区提供四路程控高精度二级电源(用作传感器工作电压),程控范围:2.0V~7.0V;
确保每个传感器组件之间工作电压差不超过50mV;
老化电源4路(12V/450W)
试验状态监测应用自动校准技术,提高参数检测的精度;
传感器输出电压:0mV~7000mV;精度:±2mV;
传感器工作电压:0.00V~7.00V;精度:±1%±1LSB;
气体浓度变送器电流:4mA~20mA精度:±1%±1LSB;
老化板采用耐高低温板材和专用夹具,适应多种规格型号传感器组件;
供电要求380V, 50Hz,三相;最大功率:6kW


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ELEG-VL晶体振荡器 高低温老化测试系统
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