ELED-V系列 电源模块高温老化系统

符合标准:
     GJB1648,GJB360(等同MIL-STD-202)。
适用范围:
      适用于对各种晶体振荡器/组件进行高低温循环老化,测试振荡器在不同温度条件下的输出频率变化情况,并自动进行筛选分组。
技术指标:

型号ELED-VELED-VHELED-VL
系统分区16区16区16区
试验容量16X1616X416X4
试验温度最高150℃-40℃~+150℃
负载路数每区16路每区4路
能量回馈型负载业界首创的能量回馈型电子负载,回馈效率≥50%;
适应电压5-35V,电流最大5A, 并联组合可达到20A;每路功率容量为50W。
业界首创的能量回馈型电子负载,回馈效率≥50%;
适应电压5-50V,电流最大40A, 并联组合可达到20A;每路功率容量为150W。
抗干扰措施老化板有完善的滤波措施,消除多个电源模块间、输入老化电源与模块电源间的相互干扰,确保安全老化和准确测量。
试验状态监测实时监测每个模块的输入电压、输出电压/电流、壳温等参数;并描绘其随时间的变化曲线。
老化电源标准配置8台40V/30A 电源。
壳温控制电路可选每区6套,自动调整模块壳温至设定值
保护功能壳温超限保护,输出电压超限保护,输出电流超限保护(对应模块);
输入电源超限保护(对应电源区所有模块);
试验箱温度超限保护(整台设备所有模块);
试验夹具采用零插拔力试验插座及耐高低温基板,适应各种不同形式的封装;
供电要求380V,50Hz,三相;
整机功率:8KW以下
380V,50Hz,三相;
整机功率:12KW以下


ELEG-VL晶体振荡器 高低温老化测试系统

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ELED-P大功率 PWM模块老化系统
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