ELEG-VL晶体振荡器 高低温老化测试系统

符合标准:
     GJB1648,GJB360(等同MIL-STD-202)。
适用范围:
      适用于对各种晶体振荡器/组件进行高低温循环老化,测试振荡器在不同温度条件下的输出频率变化情况,并自动进行筛选分组。
技术指标:

型号ELEG-VLELEG-V
系统分区16区
试验容量每区64个传感器组件,共1024位。
试验温度-50℃~125℃,温度循环模式最高150℃
试验控制方式采用流程式控制软件,循环次数及步次方便编辑;
实时监测不同温度条件下晶体振荡器输出频率变化;
所有循环相同步次数据对比;
二级电源每区提供一路程控高精度二级电源(用作振荡器工作电压);
程控范围:2.0V~10.0V;精度:±1%;
 
老化电源4路(12V/450W)
试验状态监测应用自动校准技术,提高参数检测的精度;
振荡器输出频率:10Hz~100kHz ;精度:±0.01%±1LSB;
振荡器工作电压:0.00V~10.00V;精度:±1%±1LSB;
试验温度直接与试验箱通讯读取;
自动描绘各振荡器输出频率/时间、频率/温度曲线;
根据设定判据自动对晶体振荡器进行分组;
老化板采用耐高低温板材和专用夹具;
供电要求380V, 50Hz,三相;最大功率:8Kw;380V, 50Hz,三相;最大功率:6Kw;


ELED-S 传感器组件 低温老化测试系统

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ELED-V系列 电源模块高温老化系统
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